當前位置：首頁 > 產品中心 > > 專用設備儀器 > TR-LT-2單晶少子壽命測試儀

單晶少子壽命測試儀

簡要描述：單晶少子壽命測試儀少子壽命測試儀
本儀器根據通用方法高頻光電導衰退法的原理設計，由穩壓電源、高頻源、檢波放大器，特制的InGaAsp／InP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機結構緊湊、測量數據可靠

產品型號：TR-LT-2
廠商性質：其他
更新時間：2025-09-05
訪問量：768

產品咨詢聯系我們

產品分類

Product Category

專用設備儀器

牛奶分析儀氧指數測定儀晶閘管綜合測試儀腐蝕在線監測儀化學發光定氮儀抗乳化性能測定儀 T1860農藥固體可燃性測定儀顆粒狀農藥粉塵測定儀前照燈檢測儀遠近光校準器便攜式電子井深儀自動膏藥軟化點測定儀（碘量法）天然氣硫化氫測定儀自動生石灰活性測定儀泵吸式氣體檢測報警儀觸屏智能型鹽霧試驗機全自動開口閃點測定儀差熱分析儀煙霧發生器電石發氣量測定裝置原砂比表面積測定儀自動藥物錐入度試驗器淬火介質冷卻性能測定儀紫外線光強度照度計智能顆粒強度測定儀裂縫綜合測試儀（測寬測深一體機）食用油品質檢測儀靶式光源儀屏幕亮度計多路溫度測試儀高精度材料導熱系數測試儀纖維細度及截面分析儀自動沸點試驗裝置智能型砂強度機乳粉溶解性不溶度指數測定儀瞬態快速熱線法導熱系數測試儀瞬態激光導熱系數測定儀動彈性模量測定儀測定器氣量儀溶氧儀測定儀小精靈測氡儀精密烘箱檢測儀礦用風門開閉狀態傳感器回彈儀檢定器回彈儀拉簧檢定儀專用

查看全部

詳細介紹

產地	國產	加工定制	否

單晶少子壽命測試儀 少子壽命測試儀

是參考美國 A.S.T.M 標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數載流子壽命。半導體材料的少數載流子壽命測量，是半導體的常規測試項目之一。本儀器靈敏度較高，配備有紅外光源，可測量包括集成電路級硅單晶在內的各種類型硅單晶，以及經熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。

據通用方法高頻光電導衰退法的原理設計，由穩壓電源、高頻源、檢波放大器，特制的InGaAsp／InP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機結構緊湊、測量數據可靠。

單晶少子壽命測試儀 少子壽命測試儀技　術　指　標：

測試單晶電阻率范圍	>2Ω.cm
可測單晶少子壽命范圍	5μS～7000μS
配備光源類型	波長：1.09μm；余輝<1 μS；閃光頻率為：20～30次／秒；閃光頻率為：20～30次／秒；
高頻振蕩源	用石英諧振器，振蕩頻率：30MHz
前置放大器	放大倍數約25，頻寬2 Hz-1 MHz
儀器測量重復誤差	<±20％
測量方式	采用對標準曲線讀數方式
儀器消耗功率	<25W
儀器工作條件	溫度： 10-35℃、濕度 < 80％、使用電源：AC 220V，50Hz
可測單晶尺寸	斷面豎測：φ25mm—150mm； L 2mm—500mm；縱向臥測：φ25mm—150mm； L 50mm—800mm；
配用示波器	頻寬0—20MHz；電壓靈敏：10mV／cm

產品名稱：地下金屬探測儀/金屬探測器
產品型號：TD-TM88

地下金屬探測儀/金屬探測器型號:TD-TM88

TD-TM88型金屬探測器能準確地幫你探測（尋找）到并識別出深埋地下的金屬物品及金屬寶物。是專業性深金屬探測器，俗稱“探寶器”。

Z大探測深度: 3.5米
操作方式: 地平衡/識別
重量: 4.5公斤
電源：一號電池、三號電池

注：Z大探測深度，是指按產品的企業標準用一塊60cm×60cm×1cm的鋁板埋入干燥泥土中所測得的結果（執行標準號：Q/XHT 002-2008)。即：被測金屬物體越大探的越深，被測金屬物體越小探的越淺。
     TD-TM88型金屬探測器采用大功率發射、自動跟蹤系統，它具有足夠的探測深度和準確的識別能力，是專業型深探測器，特別于地層深部的探測作業。

    金屬埋在地下，我們透過厚厚的土層去探測，必然受到地質結構的影響。地層中含有各種各樣的礦物，它們也會使金屬探測器產生信號，某些礦物的信號會掩蓋掉金屬的信號而造成假象。用過舊試金屬的人都有這種體會，隨著探頭掃過凹凸不平的地面，信號也跟著變化，探頭靠近土堆、石塊、磚頭都會發出報警聲，這種現象稱為“礦化反應”。由于這個原因，舊試金屬探測器只能探測到淺土中的金屬，對深埋地下的金屬目標是無能為力的。TM88 型儀器裝有先進的地平衡系統，它只選通金屬信號，排除“礦化反應”的干擾，大大提高了儀器的探測深度。

    TD-TM88型儀器采用“高低搭配”設計，隨機配有大小兩個探頭，在一般的情況下，例如在室內或者土質條件較復雜的地方，接上小探頭作常規探測。常規探測時工作穩定、分辨準確、抗土質干擾能力強。在特殊的情況下，例如在野外土質均勻的地段，所尋找的目標又埋得很深，可以接上大探頭進行加深探測，加深探測時儀器具有的穿透力，但容易受到雜波干擾。

產品名稱：磁性涂層測厚儀涂層測厚儀
產品型號：JJC810F

磁性涂層測厚儀涂層測厚儀型號：JJC810F

JJC810F涂層測厚儀是具有廣泛使用范圍的磁性儀器。其技術參數*符合標準。
本儀器是磁性便攜式覆層測厚儀，采用磁感應測試方法，能快速、無損傷、精密地測試磁性底材上的非磁性涂、鍍層厚度。既可用于實驗室，也可用于工程現場。本儀器能廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護專業*的儀器。
Fe質探針可檢測所有非磁性涂層厚度，例如涂在鋼、鐵上的漆、粉末涂層、塑料、瓷、鉻、銅、鋅等。

JJC810F涂層測厚儀功能：
●采用了磁性測厚方法，可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度；
●可采用單點校準和兩點校準兩種方法對儀器進行校準；
●可采用基本校準修正法對測頭系統誤差進行更新修正，保證儀器在測量過程中的準確性；
●負數顯示功能，保證儀器零位點校準的準確性，提高測試精度；
●操作過程有蜂鳴聲提示；
●兩種關機方式：手動關機方式和自動關機方式；
●電池電壓指示：低電壓提示；
●微功耗設計，在待機裝態不到10微安的電流；
●測量方法：F 磁感應。



JJC810F涂層測厚儀技術參數：
測量范圍：0~1250um (其他量程可訂制)
分辨率：0.1/1
小曲面: 凸 5mm/ 凹 5mm
小測量面積：10×10mm
薄基底：0.4mm
使用環境：溫度：0-40℃ 濕度：10-85%RH
測量準精度誤差：零點校準 ±（1+3%H）；二點校準±【（1%～3%H）】H+1.5
公制/英制：可轉換機身尺寸：102mm x 66mm x24mm
電源：2節5號電池
重量：99g（含電池）

產品咨詢

單晶少子壽命測試儀

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：